XTL-18BD倒置金相显微镜
XTL-18BD倒置金相显微镜XTL-18A/XTL-18BD倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,
倒置三目金相显微镜
4XC型金相显微镜主要用于鉴定和分析金属内部结构组织,或用于观察材料表面的某些特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。 总放大倍数:100X-1000X
金相检测显微镜
XJZ-6、XJZ-6A型正置式透反、正置式反射金相显微镜坚固稳定,充分保证完善的机械性能,可供工厂、高等院校、科研所及电子工业部门作金相、岩相、晶体等方面的试验与分析之用。
硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。